我們日常生（shēng）活中，很多生活物品都經過鍍（dù）膜機鍍上（shàng）了一（yī）層膜（mó）層（céng），讓（ràng）產品不僅變得更美觀，也更實用。但是（shì）很多人會有一個疑問，那既然是（shì）鍍了一層膜層，薄膜肯定是有厚度大（dà）小的，那麽薄（báo）膜（mó）厚度具體多厚呢，以及怎麽去測量？

       薄膜必須沉積在基底之上， 所（suǒ）以離（lí）開了基片也就無從談薄膜沉積的問題。基片的清洗好壞又對薄膜的質最有極共重要的影響。同時在薄膜的製作中還必（bì）須知道薄（báo）膜的厚度，脫離了薄膜的厚度來（lái）談薄膜性質的測最（zuì）也是亳無（wú）意義的。 所以， 膜厚的測量和（hé）基片的清洗可以說是和薄膜（mó）製作相關的重要技術。一般所謂的厚度是指兩個完全平整的平行平麵之間的距離，這個概念是一個幾何概念。

        理想的薄膜厚度是指基片表麵（miàn）和薄膜表麵之間的距離。在薄膜（mó）形（xíng）貌的三維度量（liàng）中，相對於薄（báo）膜的厚度來講（jiǎng），其他兩維的度量可以說是無窮大。由於實際上存在的表麵是不平整和不連續（xù）的，而且薄（báo）膜的內部還可能存在著氣孔、雜質、晶格缺陷和表麵吸附分子等等，所（suǒ）有要嚴格地定義和精確地測（cè）量薄膜的（de）厚度實際上是很困難的。

        膜厚（hòu）的（de）定義位當根據測址的方法和（hé）測址的目的決定（dìng）。 因此，同一（yī）個薄膜，使用（yòng）不同的測量方法會得到不（bú）同的結果， 即不同的厚度。

        在薄膜油測量中的（de）表麵並不是（shì）一個幾何的概念，而是一個 物埋概（gài）念，是指表麵分（fèn）子（原子）的集合。 平均表麵是指表麵原子所（suǒ）有（yǒu）的點到這個麵的距離代（dài）數和等於零， 平均表麵是一個兒何概念。

        我們通常（cháng）將基片的一側的表麵（miàn）分子的集合的平均表麵稱為基片表（biǎo）麵；薄膜上不（bú）和基片（piàn）接觸的那（nà）一側的表（biǎo）麵的（de）平均表麵稱為薄膜的形狀表麵，將所測量的薄膜原子重新排列，使（shǐ）其密度和大塊（kuài）狀固體材料完全一樣（yàng）且均勻的分布在基片表麵（miàn）上，這時平均表麵稱為薄膜質量等價表（biǎo）麵；根據所測量薄膜的物理性質等（děng）效為一種長度和寬度與所測量的薄膜一樣的大塊固體材料的薄膜，這（zhè）時的平均（jun1）表麵稱為（wéi）薄膜（mó）物（wù）性等價表（biǎo）麵。 形狀膜厚是比較接近於（yú）直觀（guān）形式的膜厚， 通常以µm為單位； 質量膜厚反映了薄膜中包含物質為多少，通常（cháng） 以 µg/cm#8217;為單位， 物性膜厚在實際使用上（shàng）較有用， 而且（qiě）比較容易測量。

         由於實際表麵並不平整，同時薄膜製（zhì）作過程（chéng）中（zhōng）又不可避免地要有各（gè）種缺陷、 雜質（zhì）和吸（xī）附分子等存在，所以（yǐ）不（bú）管用哪 一種方法來定義和（hé）測量膜厚，都是一個平均值，而且足包括了雜質、缺陷以及吸附分子在內的薄膜的厚度值。

        真空（kōng）鍍膜機鍍膜是在（zài）真空腔體下進行鍍膜的，對於測量膜厚度來說，是需（xū）要這方麵專業的測量儀才能測（cè）出厚度大小。

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